美國吉時(shí)利2600B型數(shù)字源表簡介：

2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測量儀器，既可以用作桌面級I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測試系統(tǒng)的組成部分。對于桌面級的應(yīng)用，2600B系列提供一款嵌入式TSP® Express測試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測試，無需編程或安裝軟件。對于系統(tǒng)級應(yīng)用，2600B的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界zui高吞吐量，從而降低了測試成本。

美國吉時(shí)利2600B型數(shù)字源表特點(diǎn)：

 * ?一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 代碼后向兼容2 6 0 0系列數(shù)字源表，便于更換 TSP® Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測試 精密定時(shí)和信道同步（<500ns）

* 執(zhí)行并行測試，獲得無以倫比的吞吐量

* 20,000讀數(shù)/秒提供更快的測試時(shí)間和能力，捕捉器件瞬態(tài)性能

* 系列產(chǎn)品提供寬動態(tài)范圍： 1fA~10A和1µV~200V

* TSP-Link^®總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展

* 測試腳本處理器（TSP^®）以*的系統(tǒng)自動化在儀器中執(zhí)行完整的測試程序（腳本）

* USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測試腳本

* LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測試、監(jiān)控和排錯(cuò)

應(yīng)用方案：

• 對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析，包括：
•     -分立的和無源的元器件
•     -雙引腳–電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
•     -三引腳–雙極型小信號晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET)等
•     -并行測試–雙引腳、三引腳元器件陣列
•     -簡單集成電路–光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
• 集成的器件-小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
•     -模擬IC
•     -射頻集成電路(RFIC)
•     -應(yīng)用定制的集成電路
•     -系統(tǒng)級芯片(SOC)器件
• 光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器
• 晶圓級可靠性
• NBTI、TDDB、HCI、電遷移
• 太陽能電池
• 電池